＜図書＞
シンリ テスト ノ カクリツ モデル
心理テストの確率モデル / ゲオルク・ラッシュ著 ; 内田良男監訳
| データ種別 | 図書 |
|---|---|
| 出版者 | 名古屋 : 名古屋大学出版会 |
| 出版年 | 1985.8 |
| 大きさ | xxviii, 237p ; 21cm |
| 別書名 | 原タイトル:Probabilistic models for some intelligence and attainment tests |
| 一般注記 | 著者の肖像あり 文献: p229〜231 |
| 著者標目 | *Rasch, G. (Georg), 1901- 内田, 良男 <ウチダ, ヨシオ> |
| 件 名 | NDLSH:精神測定 |
| 分 類 | NDC8:140.7 NDLC:SB31 |
| 書誌ID | 2000023353 |
| ISBN | 493068935X |
| NCID | BN00541130 |
| 本文言語 | 日本語 |
所蔵情報を非表示
| 巻 次 | 所在 | 請求記号 | 資料番号 | 状 態 | コメント | ISBN |
|---|---|---|---|---|---|---|
|
|
書庫(和図書) | 140.7/ラツ | 1860175000 |
|
493068935X |